上海勘测设计研究院申请基于图像分割的绝缘子缺陷检验测试方法及系统专利提高缺陷检测的准确性

  国家知识产权局信息显示，上海勘测设计研究院有限公司申请一项名为“一种基于图像分割的绝缘子缺陷检测的新方法及系统”的专利，公开号CN121073911A，申请日期为2025年8月。

  专利摘要显示，本发明涉及计算机技术领域，公开了一种基于图像分割的绝缘子缺陷检验测试方法及系统，该方法包括：采用高斯函数颜色映射算法对UV图像进行颜色映射处理，得到RGB通道图像；采用自适应阈值分割算法将RGB通道图像分割成二值图像；统计二值图像中各色像素点总数，确定绝缘子放电光斑面积；分析连续UV图像的放电光斑面积变化，对绝缘子进行缺陷检验测试，本发明通过采用高斯函数颜色映射算法，充分利用UV图像的三通道颜色信息，结合自适应阈值分割算法分割图像，降低算法的计算复杂度，统计分割得到的二值图像中像素点，确定绝缘子放电光斑面积，为绝缘子缺陷检验测试提供数据基础，利用放电光斑面积变化实现绝缘子缺陷检验测试，提高缺陷检测的准确性。

  天眼查资料显示，上海勘测设计研究院有限公司，成立于1997年，位于上海市，是一家以从事专业方面技术服务业为主的企业。企业注册资本96012.9609万人民币。通过天眼查大数据分析，上海勘测设计研究院有限公司共对外投资了27家企业，参与招投标项目5000次，财产线条，此外企业还拥有行政许可73个。

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